半導体バーンイン評価装置用基板

アレイ状に接続された半導体の特性測定または異常検出用途

解決した課題
接続された多数の半導体の中から発生する異常信号を見逃すことなく正確に測定するための仕組みづくりを行いました。

仕向先	試験装置メーカ
技術的要素	多CHアナログ信号のデータ収集、高電圧対応基板設計、LAN経由でホストへのデータ転送
業界	製造

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